Karakterisasi Lanjut Struktur mikro /patahan + Analisas Kimia EDS + Mapping menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM)
Karakterisasi Lanjut Struktur mikro /patahan + Analisas Kimia EDS + Mapping menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM)
Karakterisasi Lanjut Struktur mikro /patahan + Analisas Kimia EDS + Mapping menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM)
Layanan Kontraktual


DESKRIPSI LAYANAN | Scanning electron microscope (SEM) menghasilkan gambar dari permukaan benda uji dengan memindai permukaan dengan menggunakan pancaran electron yang difokuskan, Elektron berinteraksi dengan atom dalam permukaan, menghasilkan berbagai macam signal yang…

  • Laboratorium Karakterisasi Lanjut - Serpong (Metalurgi)
  • Direktorat Pengelolaan Laboraturium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains Teknologi
  • Puspiptek - Serpong
  • Satuan Layanan: Per Kontrak
  • Waktu Pengerjaan Layanan: 5 Hari Kerja
  • Kuota Pelayanan Per Hari: 1
  • Kapasitas Layanan: 1 Per Kontrak
  • Jumlah Minimal Pengajuan: 1
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Ajukan Layanan
Scanning electron microscope (SEM) menghasilkan gambar dari permukaan benda uji dengan memindai permukaan dengan menggunakan pancaran electron yang difokuskan, Elektron berinteraksi dengan atom dalam permukaan, menghasilkan berbagai macam signal yang mengandung informasi mengenai topgradi dan komposisi. SEM dapat menghasilkan resolusi yang tinggi dalam skala nano meter. Sampel diobservasi dalam keadaan vacuum, low vacuum ataiu dalam keadaan cair dalam lingkungan terkontrol.

E-mail layanan uji: labkarserpong@brin.go.id
 

Syarat Pengajuan:
  • File Data Foto
  • File Dukung Lainnya
Nama Berkas Ukuran Berkas
Berkas SOP Layanan 0.12 MB
Template File Data Foto 0 MB
Template File Dukung Lainnya 0 MB

Layanan Terkait