DESKRIPSI LAYANAN | Tujuan dari pengujian ini adalah untuk memastikan kesesuaian benda uji sebagai tempat untuk aplikasi KTP ELEKTRONIK. Benda uji tersebut ditujukan untuk menjadi blangko KTP Elektronik. Benda uji : kartu cerdas nirkontak (contactless…
- Laboratorium Elektronika dan Sistem Antariksa Terpadu - Elektronika
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gd. 254 - KST Bj Habibie (Serpong) - 08119811567
- labei@brin.go.id
Tujuan dari pengujian ini adalah untuk memastikan kesesuaian benda uji sebagai tempat untuk aplikasi KTP ELEKTRONIK. Benda uji tersebut ditujukan untuk menjadi blangko KTP Elektronik.
Benda uji : kartu cerdas nirkontak (contactless smart card)
Parameter uji : karakteristik perilaku kartu cerdas KTP-el
Metode uji : Dokumen Teknis tentang metode uji kartu cerdas KTP Elektronik
Alat uji : KTP Elektronik Compliance Tester
Peraturan Terkait : Peraturan Menteri Dalam Negeri Republik Indonesia Nomor 6 Tahun 2011 tentang standar dan spesifikasi perangkat keras, perangkat lunak dan blangko kartu tanda penduduk berbasis nomor induk kependudukan secara nasional
*Notes : Mohon melampirkan surat pengantar dari dukcapil
Dalam rangka pemeliharaan sarana dan prasarana, maka terhitung mulai tanggal 20 Desember sampai dengan 1 Januari setiap tahunnya, untuk sementara kami tidak memberikan layanan. Layanan akan dibuka kembali pada tanggal 2 Januari tahun berikutnya.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP/Formulir/Ajuan Layanan | 3.29 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
