Rp 350.000
DESKRIPSI LAYANAN | XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan dan bubuk. Persyaratan Sampel: Padat : Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200…
- Laboratorium Teknologi Radiasi - Laboratorium Karakterisasi Riset Radiasi
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
KST Serpong - 08119811584
- ltkmr@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan dan bubuk.
Persyaratan Sampel:
Padat :
Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200 mesh)
Berat minimal 10 gr
Mohon Lampirkan foto sampel serta sebutkan unsur yang akan dianalisis
​info lebih lanjut silakan hubungi Kurnia Setiawan Widana (08179167198)
Syarat Pengajuan:
Persyaratan Sampel:
Padat :
Ukuran butir minimal 74 mikron (lolos 200 mesh)
Berat minimal 10 gr
Mohon Lampirkan foto sampel serta sebutkan unsur yang akan dianalisis
​info lebih lanjut silakan hubungi Kurnia Setiawan Widana (08179167198)
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
---|---|---|
Berkas SOP/Formulir/Ajuan Layanan | 1.37 MB | |
Template File Data Foto | 0 MB | |
Template File Dukung Lainnya | 0 MB |