Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S1 di Pusat Riset Material Maju Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S1 di Pusat Riset Material Maju
Pilih Detail
Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S1 di Pusat Riset…
Gratis
Praktek Kerja Lapangan (PKL) Mahasiswa S1 di Pusat Riset Material Maju Praktek Kerja Lapangan (PKL) Mahasiswa S1 di Pusat Riset Material Maju
Pilih Detail
Praktek Kerja Lapangan (PKL) Mahasiswa S1 di Pusat Riset…
Gratis
Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S2 di Pusat Riset Material Maju Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S2 di Pusat Riset Material Maju
Pilih Detail
Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S2 di Pusat Riset…
Gratis
Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S3 di Pusat Riset Material Maju Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S3 di Pusat Riset Material Maju
Pilih Detail
Pembimbingan Tugas Akhir (TA) Mahasiswa S3 di Pusat Riset…
Gratis
JASA ANALISIS Difraksi Sinar X (X-Ray Diffraction/XRD) JASA ANALISIS Difraksi Sinar X (X-Ray Diffraction/XRD)
Pilih Detail
JASA ANALISIS Difraksi Sinar X (X-Ray Diffraction/XRD)
Rp. 650.000
Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, & mapping) Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, & mapping)
Pilih Detail
Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, &…
Berbayar
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line,…
Berbayar
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line / mapping) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line / mapping)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line…
Berbayar
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line dan mapping) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line dan mapping)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line…
Berbayar
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM) Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
Pilih Detail
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
Berbayar
Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 1 fitur EDS (point / line / mapping) Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 1 fitur EDS (point / line / mapping)
Pilih Detail
Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 1 fitur EDS…
Berbayar
Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map) Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map)
Pilih Detail
Karakteristik Lanjut FE-SEM dengan tambahan 2 fitur EDS…
Berbayar