Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room Temperature - 200 °C (min 30 °C, maks 200 °C) Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room Temperature - 200 °C (min 30 °C, maks 200 °C)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room Temperature - 500 °C (min 30 °C, maks 500 °C) Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room Temperature - 500 °C (min 30 °C, maks 500 °C)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut Light Flash Apparatus (LFA) - Room…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut Morfologi, dan EBSD Karakterisasi Lanjut Morfologi, dan EBSD
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut Morfologi, dan EBSD
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line / mapping) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line / mapping)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 1 fitur EDS (point / line…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line, point & map, line & map)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 2 fitur EDS (point & line,…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line dan mapping) Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line dan mapping)
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut SEM dengan 3 fitur EDS (Point, line…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut Transmission Electron Microscopy (TEM) Talos F200X Karakterisasi Lanjut Transmission Electron Microscopy (TEM) Talos F200X
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut Transmission Electron Microscopy (TEM)…
Layanan Kontraktual
Karakterisasi Lanjut Uji Charge/Discharge Karakterisasi Lanjut Uji Charge/Discharge
Pilih Detail
Karakterisasi Lanjut Uji Charge/Discharge
Layanan Kontraktual
KARAKTERISASI LANJUT X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (XPS)/ ELECTRON SPECTROSCOPY FOR CHEMICAL ANALYSIS (ESCA) KARAKTERISASI LANJUT X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (XPS)/ ELECTRON SPECTROSCOPY FOR CHEMICAL ANALYSIS (ESCA)
Pilih Detail
KARAKTERISASI LANJUT X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (XPS)/…
Layanan Kontraktual
Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, & mapping) Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, & mapping)
Pilih Detail
Karakteristik Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, &…
Layanan Kontraktual
Particle Size Analyzer (PSA) - Nano Particle Size Analyzer (PSA) - Nano
Pilih Detail
Particle Size Analyzer (PSA) - Nano
Layanan Kontraktual
JASA ANALISIS UV-Vis JASA ANALISIS UV-Vis
Pilih Detail
JASA ANALISIS UV-Vis
Layanan Kontraktual