Rp 600.000
SERVICE DESCRIPTION | Analysis per solid sample (photomicrograph SEM parameter) Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan…
- Laboratorium Fisika dan Instrumen Pencitraan Maju - Imaging Resolusi Menengah (MIP)
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gd. 442 KST BJ Habibie Serpong - BRIN, Tangerang Selatan, Kode Pos 15314 - 08119811562
- nusaveritasinspektama@gmail.com
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Analysis per solid sample (photomicrograph SEM parameter)
Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan kemudian form F-10 yang telah diisi (format .pdf) diunggah/diupload bersama foto sampel di bagian “File Dukung Lainnya” dan “File Data Foto”. Pastikan bahwa nama dan jumlah sampel yang terdaftar di ELSA System sama dengan jumlah sampel yang tertulis pada Form F-10. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Verifikator.
Equipment : Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Type :
No BMN alat yang digunakan:
s an instrument to find out information about:
1. Topography, namely the surface characteristics and texture (hardness, the nature of reflecting light, and so on).
2. Morphology, namely the shape and size of the constituent particles of objects (strength, defects in the Integrated Circuit (IC) and chips, and so on).
3. Composition, i.e. quantitative data of elements and compounds contained in objects (melting point, reactivity, hardness, and so on).
4. Crystallographic information, namely information about how the arrangement of the grains in the object being observed (conductivity, electrical properties, strength, and so on). Is an instrument to characterize the crystal structure, crystal size of a solid material. All materials that contain certain crystals when analyzed using XRD will bring up specific peaks
Application Requirements:
Prasyarat Sampel: Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, customer harus melengkapi form F-10 yang dapat didownload di bagian “Berkas Layanan” à “Berkas SOP Layanan” dan kemudian form F-10 yang telah diisi (format .pdf) diunggah/diupload bersama foto sampel di bagian “File Dukung Lainnya” dan “File Data Foto”. Pastikan bahwa nama dan jumlah sampel yang terdaftar di ELSA System sama dengan jumlah sampel yang tertulis pada Form F-10. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Verifikator.
Equipment : Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Type :
No BMN alat yang digunakan:
s an instrument to find out information about:
1. Topography, namely the surface characteristics and texture (hardness, the nature of reflecting light, and so on).
2. Morphology, namely the shape and size of the constituent particles of objects (strength, defects in the Integrated Circuit (IC) and chips, and so on).
3. Composition, i.e. quantitative data of elements and compounds contained in objects (melting point, reactivity, hardness, and so on).
4. Crystallographic information, namely information about how the arrangement of the grains in the object being observed (conductivity, electrical properties, strength, and so on). Is an instrument to characterize the crystal structure, crystal size of a solid material. All materials that contain certain crystals when analyzed using XRD will bring up specific peaks
Application Requirements:
- Photo
- Other Supporting File
| File Name | File Size | |
|---|---|---|
| Service SOP/Form file | 0.33 MB | |
| Template Photo | 0 MB | |
| Template Other Supporting File | 0 MB |
