Rp 2.500.000
DESKRIPSI LAYANAN | Atomic Force Microscopy (AFM) adalah teknik pemindaian probe beresolusi tinggi yang digunakan untuk mengamati dan mengukur permukaan material pada skala nano. AFM bekerja dengan memindai ujung (tip) yang tajam, biasanya terbuat dari silikon atau silikon…
- Lab Karakterisasi Nuklir - Sub Laboratorium Bahan Maju Nuklir
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gd. 71 KST BJ Habibie, Kel. Muncul, Kec. Setu, Kota Tangerang Selatan 15314 - 08119811572
- labrads@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Atomic Force Microscopy (AFM) adalah teknik pemindaian probe beresolusi tinggi yang digunakan untuk mengamati dan mengukur permukaan material pada skala nano. AFM bekerja dengan memindai ujung (tip) yang tajam, biasanya terbuat dari silikon atau silikon nitrida, melintasi permukaan sampel. Ujung ini terhubung ke sebuah cantilever, dan saat bergerak di atas permukaan, interaksi antara ujung dan sampel menyebabkan cantilever terdefleksi, sehingga menghasilkan gambar topografi dari permukaan sampel.
Basic Mode : Non-Contact Mode Syarat Sampel :
1. Sampel padat (bentuk bulk atau film),
2. Rata/flat, dengan variasi topografi permukaan kurang dari 1.7 mikrometer, dan
3. Untuk pengukuran ketebalan, sampel harus memiliki step (lembah dan gunung).
File hasil pengukuran yang diberikan untuk pendaftaran 1 sampel:
1. File data mentah: Hasil scan 1 titik pengukuran.
2. File report: Gambar flaRen topography dan 3-Dimensi serta analisis roughness area dan line.
3. Penambahan 1 titik ukur di sampel yang sama dihitung 1 sampel yang baru.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
- Sampel tdak beracun, tidak korosif, dan tidak radioaktif
- Maksimum 1 kali pengajuan sebanyak 3 sampel
Keterangan : Pengolahan data flatten dan 3D dilakukan menggunakan metode standar hanya sebagai acuan. Lebih lanjut, pengolahan data dapat dilakukan secara mandiri menggunakan perangkat lunak open source seperti Gwyddion.
Syarat Pengajuan:
Basic Mode : Non-Contact Mode Syarat Sampel :
1. Sampel padat (bentuk bulk atau film),
2. Rata/flat, dengan variasi topografi permukaan kurang dari 1.7 mikrometer, dan
3. Untuk pengukuran ketebalan, sampel harus memiliki step (lembah dan gunung).
File hasil pengukuran yang diberikan untuk pendaftaran 1 sampel:
1. File data mentah: Hasil scan 1 titik pengukuran.
2. File report: Gambar flaRen topography dan 3-Dimensi serta analisis roughness area dan line.
3. Penambahan 1 titik ukur di sampel yang sama dihitung 1 sampel yang baru.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
- Sampel tdak beracun, tidak korosif, dan tidak radioaktif
- Maksimum 1 kali pengajuan sebanyak 3 sampel
Keterangan : Pengolahan data flatten dan 3D dilakukan menggunakan metode standar hanya sebagai acuan. Lebih lanjut, pengolahan data dapat dilakukan secara mandiri menggunakan perangkat lunak open source seperti Gwyddion.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.24 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
