AFM(Atomic Force Microscopy) -Basic Mode- Non Contact (Topography and Phase)
AFM(Atomic Force Microscopy) -Basic Mode- Non Contact (Topography and Phase)
Layanan Kontraktual


DESKRIPSI LAYANAN | Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan…

  • Lab Karakterisasi Nuklir - Sub Laboratorium Bahan Maju Nuklir
  • Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
  • KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
    Gd. 71 KST BJ Habibie, Kel. Muncul, Kec. Setu, Kota Tangerang Selatan 15314
  • 08119811572
  • labrads@brin.go.id
  • Satuan Layanan: Per Kontrak
  • Waktu Pengerjaan Layanan: 14 Hari Kerja
  • Kuota Pelayanan Per Hari: 1
  • Kapasitas Layanan: 1 Per Kontrak
  • Jumlah Minimal Pengajuan: 1
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Ajukan Layanan
Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM

Basic Mode : Non-Contact Mode
Syarat Sampel : Sampel padat dan rata (flat)

Syarat Pengajuan:
  • File Data Foto
  • File Dukung Lainnya
Nama Berkas Ukuran Berkas
Berkas SOP Layanan 0.19 MB
Template File Data Foto 0 MB
Template File Dukung Lainnya 0 MB

Layanan Terkait