Layanan Kontraktual
DESKRIPSI LAYANAN | Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan…
- Lab Karakterisasi Nuklir - Sub Laboratorium Bahan Maju Nuklir
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gd. 71 KST BJ Habibie, Kel. Muncul, Kec. Setu, Kota Tangerang Selatan 15314 - 08119811572
- labrads@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Atomic Force Microscope adalah jenis mikroskop dengan resolusi amat tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer, 1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik. Mikoskop prekursor mikroskop gaya atom, dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM
Basic Mode : Non-Contact Mode
Syarat Sampel : Sampel padat dan rata (flat)
Syarat Pengajuan:
Basic Mode : Non-Contact Mode
Syarat Sampel : Sampel padat dan rata (flat)
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
---|---|---|
Berkas SOP Layanan | 0.19 MB | |
Template File Data Foto | 0 MB | |
Template File Dukung Lainnya | 0 MB |