Karakteristik Lanjut Tambahan
Fitur EDS (point, line, &
mapping)

Unit: Scanning Electron Microscope (SEM)
Brand/Tipe: Hitachi SU-3500 dan Jeol JSM-IT200

Karakterisasi Lanjut Tambahan Fitur EDS (point, line, & mapping) hanya untuk penambahan fitur uji EDS.
Jika pelanggan pada saat pendampingan ingin menambahkan analisis elemen dengan EDS dan sebelumnya tidak didaftarkan saat mendaftar Analisa Morfologi saja
Pilih "Jasa Analisis Scanning Electron Microscope (SEM)".

Catatan:

1. Mohon sebelum klik ajukan layanan, dapat melihat JADWAL yang tersedia terlebih dahulu.
2. Untuk memperlancar verifikasi sampel uji yang telah didaftarkan, pelanggan harus melengkapi Form F-10 yang dapat di download pada bagian "Berkas Layanan" lalu pilih "Berkas SOP Layanan". Form F-10 yang telah diisi dalam format .PDF di upload bersama Foto Sampel di bagian "File Dukung Lainnya" dan "File Data Foto".

3. Pastikan bahwa NAMA dan JUMLAH SAMPEL yang terdaftar di ELSA sama dengan JUMLAH SAMPEL yang tertulis pada Form F-10. 

4. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Pengelola Laboratorium.

5. Pengembalian dana tidak dapat dilakukan kecuali terdapat kendala teknis di Laboratorium.

6. Apabila sampel akan diambil kembali. Batas waktu pengambilan sampel maksimal 1 bulan (30 hari kerja) setelah pengujian selesai dilaksanakan.

• File Data Foto
• File Dukung Lainnya