Rp 350.000
DESKRIPSI LAYANAN | Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan sinar-x karakteristik yang terjadi dari peristiwa efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom target (sampel) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi…
- Laboratorium Karakterisasi Lanjut Kimia Maju II
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- KST Serpong (Bacharuddin Jusuf Habibie)
Gedung 456 KST BJ Habibie, Tangerang Selatan, Banten 15314 - 08119811561
- labkarserpong@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Analisis menggunakan XRF dilakukan berdasarkan identifikasi dan pencacahan sinar-x karakteristik yang terjadi dari peristiwa efek fotolistrik. Efek fotolistrik terjadi karena elektron dalam atom target (sampel) terkena sinar berenergi tinggi (radiasi gamma, sinar-x). Bila energi sinar tersebut lebih tinggi daripada energi ikat elektron dalam orbit K, L atau M atom target, maka elektron atom target akan keluar dari orbitnya. Dengan demikian atom target akan mengalami kekosongan elektron. Kekosongan elektron ini akan diisi oleh elektron dari orbital yang lebih luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-x. Sinar-x yang dihasilkan merupakan suatu gabungan spektrum sinambung dan spektrum berenergi tertentu (discreet) yang berasal dari bahan sasaran yang tertumbuk elektron. Sinar-x karakteristik yang dihasilkan dari peristiwa tersebut ditangkap oleh detektor semi konduktor.
X-Ray Fluorescen (XRF) mirip dengan XRD namun perbedaannya adalah fluoresensi-nya yang digunakan untuk analisa. Suatu material tambang, cukup dibuat homogen dengan digerus dan dipadatkan atau dilebur, dicetak menjadi semacam bead atau seperti koin, tentunya dengan penimbangan tertentu. XRF lebih akurat dibandingkan XRD secara kuantitatif/jumlah. XRF bisa memberikan data baik dalam bentuk elemen maupun oksida. Analisanya-pun relatif cepat karena simultan (beberapa elemen atau oksida bisa dianalisa sekaligus dalam sekali running). Biayanya relatif murah juga kok. Kekurangannya : tidak bisa analisa untuk elemen atau oksida dalam kadar rendah (< 0>
PENTING:
1. Bobot sampel minimal 1-3 gr
2. Sampel harus dalam bentuk serbuk (tidak menerima preparasi menjadi serbuk)
Informasi lebih lanjut silahkan menghubungi:
https://wa.me/628119811561
Informasi tambahan:
- Sampel yang telah selesai diuji akan disimpan di Laboratorium maksimal 3 bulan.
- Sampel yang tidak diambil dalam waktu tersebut akan dimusnahkan
- Waktu pembayaran maksimal Satu Bulan (1 bulan) setelah keluar Kode Billing
Syarat Pengajuan:
X-Ray Fluorescen (XRF) mirip dengan XRD namun perbedaannya adalah fluoresensi-nya yang digunakan untuk analisa. Suatu material tambang, cukup dibuat homogen dengan digerus dan dipadatkan atau dilebur, dicetak menjadi semacam bead atau seperti koin, tentunya dengan penimbangan tertentu. XRF lebih akurat dibandingkan XRD secara kuantitatif/jumlah. XRF bisa memberikan data baik dalam bentuk elemen maupun oksida. Analisanya-pun relatif cepat karena simultan (beberapa elemen atau oksida bisa dianalisa sekaligus dalam sekali running). Biayanya relatif murah juga kok. Kekurangannya : tidak bisa analisa untuk elemen atau oksida dalam kadar rendah (< 0>
PENTING:
1. Bobot sampel minimal 1-3 gr
2. Sampel harus dalam bentuk serbuk (tidak menerima preparasi menjadi serbuk)
Informasi lebih lanjut silahkan menghubungi:
https://wa.me/628119811561
Informasi tambahan:
- Sampel yang telah selesai diuji akan disimpan di Laboratorium maksimal 3 bulan.
- Sampel yang tidak diambil dalam waktu tersebut akan dimusnahkan
- Waktu pembayaran maksimal Satu Bulan (1 bulan) setelah keluar Kode Billing
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.15 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
